8月前
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[Android稳定性] 第029篇 [问题篇] 数组越界导致Unexpected kernel BRK exception at EL1
### 文章摘要 在高低温测试中,两例设备死机问题指向charger模块。分析日志发现,问题源于`status_change_work`函数中的数组越界,可能与bitflip问题相关。解决方案建议增加兼容性代码,确保`cyclecount`值在0到800之间,防止异常值导致数组越界。
8月前
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[Android稳定性] 第028篇 [问题篇] 可靠性滚筒测试中高概率自动关机问题记录
**摘要:** 委外实验室AS2/AS4/AS5在滚筒测试中出现自动关机问题,惠州实验室AS1、AS3无此现象。分析发现LDO7触发OCP保护导致异常。验证方案将LDO7的OCP设置从LPM模式改为NPM模式,测试结果显示问题解决。
8月前
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[Android稳定性] 第027篇 [问题篇] 数组越界导致Unexpected kernel BRK exception at EL1
**摘要:** 在正常测试过程中,手机电池温度达到35度时,手机进入dump状态。问题分析显示,在`pd_policy_manager`模块的`usbpd_pm_workfunc`函数中出现了内核崩溃。进一步分析发现,`usbpd_pm_sm`函数在处理状态转换时,由于状态数组`pm_str`未包含`PD_PM_STATE_FC2_HOLD`,导致数组越界访问,引发崩溃。解决方案建议在`pm_str`数组中添加`PD_PM_STATE_FC2_HOLD`状态。