![[Android稳定性] 第047篇 [问题篇] Unexpected kernel BRK exception at EL1](https://halo-19274848.oss-cn-shanghai.aliyuncs.com/2025/06/halo_ityiau2.webp?x-oss-process=image/resize,w_800,m_lfit)
1月前
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[Android稳定性] 第047篇 [问题篇] Unexpected kernel BRK exception at EL1
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![[Android稳定性] 第029篇 [问题篇] 数组越界导致Unexpected kernel BRK exception at EL1](https://hexoimg.oss-cn-shanghai.aliyuncs.com/blog/25/4/cover_android_stability_029_1c81c82acebdd8120bce9ae2e9352245.png)
3月前
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[Android稳定性] 第029篇 [问题篇] 数组越界导致Unexpected kernel BRK exception at EL1
一、问题现象 高低温测试中出现两例死机问题，问题的指向于charger模块 二、问题分析 2.1 dmesg_TZ.txt 125008.185224: Unexpected kernel BRK exception at EL1 125008.185232: Internal error:
![[Android稳定性] 第027篇 [问题篇] 数组越界导致Unexpected kernel BRK exception at EL1](https://hexoimg.oss-cn-shanghai.aliyuncs.com/blog/25/4/cover_android_stability_027_c4bd7f27c2dcd67381ab558309350b7e.png)
3月前
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[Android稳定性] 第027篇 [问题篇] 数组越界导致Unexpected kernel BRK exception at EL1
一、问题背景 【复现概率】10/10 【前提条件】正常测试过程中 【复现步骤】电池温度达到35度 【预期结果】手机正常使用 【实际结果】手机进入dump 二、问题分析 2.1 dmesg_TZ.txt [ 492.250281][ T1879] [usbpd-pm]: usbpd_pm_
![[Android稳定性] 第010篇 [问题篇] 数组越界导致的内核panic](https://hexoimg.oss-cn-shanghai.aliyuncs.com/blog/24/12/cover_android_stability_010.png)
7月前
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[Android稳定性] 第010篇 [问题篇] 数组越界导致的内核panic
0. 问题现象 收到研发提供的反馈，服务器打包的daliy版本刷机后出现900E口，出现死机问题。 1. 问题分析 1.1 dmesg_TZ.txt [ 51.674148][ T1598] xiaomi_touch_dev_open [ 51.674189][ T1598] xiaomi_
![[Android稳定性] 第009篇 [问题篇] 数组越界导致的内核panic](https://hexoimg.oss-cn-shanghai.aliyuncs.com/blog/24/12/cover_android_stability_009.png)
7月前
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[Android稳定性] 第009篇 [问题篇] 数组越界导致的内核panic
0. 问题现象 收到研发提供的反馈，部分机器插着usb后出现死机。 1. 问题分析 1.1 dmesg_TZ.txt [ 111.851460][ T2674] CPU: 6 PID: 2674 Comm: android.hardwar Tainted: G W OE