2025 年 6 月 19 日 1篇

[Android稳定性] 第050篇 [问题篇] slab内存泄露造成设备黑屏

本文描述了在测试手机经过长期智能充电后，出现卡顿和黑屏的问题现象。复现步骤包括设置手机时间和电池温度，并使用QC3.0充电器进行充电。预期结果是系统界面流畅，但实际结果是系统界面卡死和黑屏。通过分析内存信息和slab信息，发现内存不足和slab内存泄露问题。通过slabtrace分析，确定问题根源在于charger模块中的一些函数调用导致了内存泄露。解决方案是在申请内存前，先判断是否已经申请过，以避免重复申请。