![[Android稳定性] 第050篇 [问题篇] slab内存泄露造成设备黑屏](https://halo-19274848.oss-cn-shanghai.aliyuncs.com/2025/06/halo_wquzpo4.jpg?x-oss-process=image/resize,w_800,m_lfit)
[Android稳定性] 第050篇 [问题篇] slab内存泄露造成设备黑屏
测试机经过智能长期充电后出现卡顿和黑屏现象,分析发现是slab内存泄露问题导致。通过slabtrace定位到泄漏内存的类型为“kmalloc-xxx”,并发现charger模块存在内存泄漏。最终通过修改代码,在申请内存前先判断是否已经申请过,避免重复申请,成功解决问题。
测试机经过智能长期充电后出现卡顿和黑屏现象,分析发现是slab内存泄露问题导致。通过slabtrace定位到泄漏内存的类型为“kmalloc-xxx”,并发现charger模块存在内存泄漏。最终通过修改代码,在申请内存前先判断是否已经申请过,避免重复申请,成功解决问题。